Consulta pública · gratuita e sem chave
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) integrado com Feixe de Íon Focalizado (FIB - Focused Ion Beam) e Espectrômetro de Massa de Íons Secundários por Tempo de Voo (TOF SIMS - Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) e de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET).
Metadados públicos; textos e extração seguem no EditalMD.
Dados de 09/2026
Dados disponíveis
1 compras compras
Abrir em
- Identificador
- 1806758
- Controle PNCP
- 00394494000136-1-001195/2024
- Objeto
- Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) integrado com Feixe de Íon Focalizado (FIB - Focused Ion Beam) e Espectrômetro de Massa de Íons Secundários por Tempo de Voo (TOF SIMS - Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) e de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET).
- Estado
- DF
- Código da modalidade
- 6
- Modalidade
- Pregão - Eletrônico
- Órgão
- MINISTERIO DA JUSTICA E SEGURANCA PUBLICA
- Município
- Brasília
- Valor estimado (R$)
- 15458668.38
- Publicação (horário da fonte)
- 2024-10-25 14:41:04
- Fim das propostas (horário da fonte)
- 2024-12-03 09:00:00